美國本特利Bently高溫計(jì)是有兩種形式： 1）一種用于測量熔池溫度的裝置，包括： a)耐火材料安裝套筒(1以及 b)光學(xué)高溫計(jì) 2）一般指測量溫度高于 500℃所使用的溫度計(jì)。常用的高溫計(jì)有光學(xué)高溫計(jì)、比色高溫計(jì)及輻射高溫計(jì)等。此外，熱電偶溫度計(jì)也可以用來測量3000℃以下的高溫。但因熱電偶溫度計(jì)的測量范圍可低到－200℃,所以一般不把它歸于高溫計(jì)內(nèi)。
美國本特利Bently隱絲式高溫計(jì)
zui常用的光學(xué)高溫計(jì)是隱絲式光學(xué)高溫計(jì)，其原理如圖1a所示。測量方法有兩種：一是調(diào)節(jié)電阻R以改變燈絲亮度,當(dāng)它與待測光源像的亮度相等時(shí)，燈絲在光源的像上消失,這時(shí)由電表G上讀出物體的亮度溫度；或用補(bǔ)償法由電位差計(jì)測量電流的值，再通過計(jì)算求出亮度溫度，后一方法適用于精密測量溫度。二是保持燈絲亮度為某一恒定值，旋轉(zhuǎn)一塊厚度隨角度改變的吸收玻璃，當(dāng)物體像的亮度與燈絲亮度相同，由吸收玻璃的轉(zhuǎn)角可讀取物體的亮度溫度值。
美國本特利Bently光學(xué)高溫計(jì)上的溫度標(biāo)示值可利用標(biāo)準(zhǔn)溫度燈確定。標(biāo)準(zhǔn)溫度燈如圖1b所示，它可以復(fù)現(xiàn)900～2500℃范圍內(nèi)的亮度溫度,也可以作光源。
利用隱絲式光學(xué)高溫計(jì)可測出700～3000℃的溫度。更換燈泡和物鏡附加的吸收玻璃還可測更高的溫度。
美國本特利Bently比色式高溫計(jì)
又稱比率高溫計(jì)或雙色高溫計(jì)，是測量物體色溫度的高溫計(jì)。當(dāng)非黑體的兩個(gè)確定波長λ1和λ2的光譜輻射度之比L(λ1)/L(λ2)等于某一溫度下黑體的同樣兩個(gè)波長的光譜輻射度之比時(shí)，則黑體的溫度就稱為此非黑體的色溫度。
美國本特利Bently高溫計(jì)是常用的雙色比色高溫計(jì)原理圖。由濾光片取得藍(lán)光波長λ1=0.450μm及紅光波長λ2=0.650μm。硅光電池E1和E2分別接收到波長為λ1與λ2的輻射能量后,將在它們的負(fù)載電阻上產(chǎn)生電壓U1與U2。根據(jù)硅光電池的特性有，U1/U2=L(λ1)/L(λ2)。調(diào)節(jié)電位器W使測量電路的指示達(dá)到平衡，則電位器W上指示位置與比值U1/U2對應(yīng)。利用黑體輻射源可對電位器W直接分度所指示的溫度值即待測物體的色溫度。
比色高溫計(jì)的測量范圍為800～2 000℃，測量精度可接近量程上限的±1%。比色高溫計(jì)的優(yōu)點(diǎn)是測量的色溫度值很接近真實(shí)溫度。在有煙霧、灰塵或水蒸氣等環(huán)境中使用時(shí),由于這些媒質(zhì)對λ1及λ2的光波吸收特性差別不大，所以由媒質(zhì)吸收所引起的誤差很小。對于光譜發(fā)射率與波長無關(guān)的物體（灰體）可直接測出其真實(shí)溫度。上述優(yōu)點(diǎn)都是其他類型的光測高溫計(jì)所沒有的。色溫度的溫標(biāo)是由亮度溫度確定的，因而比色高溫計(jì)的測量精度比光電高溫計(jì)的差；但由于比色高溫計(jì)使用方便，在冶金和其他工業(yè)中的應(yīng)用仍較廣泛。
美國本特利Bently光學(xué)式高溫計(jì)
一種利用物體光譜輻射度（即光譜輻射亮度）測量其溫度的高溫計(jì)。由熱輻射的能量分布定律求得物體的實(shí)際溫度T與亮度溫度Ts的關(guān)系為式中λ為所測量的單色輻射波波長，普通光學(xué)高溫計(jì)中利用紅色濾光片得到λ=0.650μm；c2=0.014388m·K為普朗克第二輻射常數(shù)；ε(λ,T)是物體的光譜發(fā)射率（黑度系數(shù)），它與溫度、波長、物質(zhì)種類及物體表面狀態(tài)等因素有關(guān)，其值可以從有關(guān)手冊中查閱或按需要自行測定。用光學(xué)高溫計(jì)測出物體的亮度溫度Ts后，由上式就可以算出待測溫度。
美國本特利Bently輻射式高溫計(jì)
原理
根據(jù)美國本特利Bently熱輻射的斯忒藩－玻耳茲曼定律制成的高溫計(jì)。這個(gè)定律指出：黑體的輻射出射度（輻射通量密度）M與其溫度T的四次方成正比，即M=σT式中斯忒藩常數(shù)σ=5.67032×10-8 W·m·K。輻射高溫計(jì)將被測物體一定面積上和一定立體角內(nèi)的輻射能量收集到接受器中，接受器的溫升將穩(wěn)定于一定數(shù)值。因溫升值事先已用黑體溫度進(jìn)行分度，由接受器的溫升可直接讀出相對應(yīng)黑體的溫度Tp。對于待測的非黑體溫度求法如下：引入物體的光譜發(fā)射率式中Mo和M分別為物體和黑體在同一溫度下的輻射通量密度。由以上兩式推得待測物體的溫度為式中Tp為輻射高溫計(jì)的讀數(shù)值，光譜發(fā)射率ε可查閱有關(guān)手冊或按需要自行測定。表中列出幾種材料在不同溫度下的光譜發(fā)射率。
美國本特利Bently輻射高溫計(jì)有折射式和反射式兩種。折射式輻射高溫計(jì)的原理如圖3a所示，接受器通常用熱電堆組成，熱端收集輻射能，冷端為室溫。測量時(shí)通過目鏡瞄準(zhǔn)待測的物體，使物體的像正好落在接受器的“+”形鉑片上。電表指示出接受器的溫升，通常的分度標(biāo)示為黑體輻射溫度值Tp。這種高溫計(jì)的主要缺點(diǎn)是：因物鏡聚焦時(shí)有色差, 只能使一部分輻射能聚焦到接受器上而引起誤差。
反射式高溫計(jì)是利用凹面鏡將輻射能量聚焦到接受器上而進(jìn)行測量的。結(jié)構(gòu)與折射式高溫計(jì)大致相同。這種高溫計(jì)雖然避免了透鏡存在色差所引起的誤差，但因空腔敞開，灰塵容易進(jìn)入腔內(nèi)而需要更好地維護(hù)。
應(yīng)用
輻射高溫計(jì)的測溫范圍及性能與光學(xué)高溫計(jì)的相同。輻射高溫計(jì)的測量誤差主要來源于：①中間媒質(zhì)（如大氣等）的選擇吸收作用，使達(dá)到接受器的輻射能量中紅外部分損失較多；②沒有按規(guī)定的熱源到高溫計(jì)的距離進(jìn)行測量（通常每種輻射高溫計(jì)對于被觀測面面積的直徑與高溫計(jì)透鏡間的距離都規(guī)定了比值）；③各種高溫計(jì)中接受器的選擇吸收特性不同，致使光譜發(fā)射率偏離選取值；④熱電堆冷熱端溫度的改變、儀表的誤差等。
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